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2018国考国家知识产权局(含专利局、专利复审委员会)半导体一处审查员分数线

国家知识产权局(含专利局、专利复审委员会)半导体一处审查员-400110206010-面试名单
招聘人数:1;报考人数:161人;最低入围面试分数线:127.60,查看职位信息
岗位代码 准考号 姓名 入面分数线
400110206010137111601516王永华127.6
400110206010137111632211陈静127.6
400110206010137111822518张靖127.6
400110206010137115122324王雅茹127.6
400110206010137145111601罗兴127.6
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国家知识产权局(含专利局、专利复审委员会)半导体一处审查员职位详细

单位信息

  • 机构性质参照公务员法管理事业单位
  • 机构层级中央
  • 部门代码137000
  • 部门名称国家知识产权局(含专利局、专利复审委员会)
  • 用人司局电学发明审查部
  • 工作地区北京
  • 工作地点北京市海淀区
  • 落户地点北京市海淀区

职位信息

  • 职位代码400110206010
  • 职位名称半导体一处审查员
  • 职位属性普通职位(不含非通用语、特殊专业职位)
  • 职位分布其他职位
  • 招考人数1
  • 报考人数161(11-08 18:00 更新
  • 审查通过人数161
  • 报名统计北京报名人数统计
  • 职位简介功率半导体器件及制造领域专利审查
  • 考试类别省级以上(含副省级)职位

报考条件

  • 专业半导体、微电子、电子科学与技术(微电子)、微电子与固体电子、凝聚态物理、固体物理、物理学
  • 学历硕士研究生及以上
  • 学位硕士
  • 政治面貌不限
  • 基层年限无限制
  • 服务基层工作经历

其他信息

  • 是否专业考试
  • 面试比列5:1
  • 部门网站www.sipo.gov.cn
  • 咨询电话010-62083898

备注

英语六级合格或成绩425分及以上;报名、专业考试等相关信息请登陆国家知识产权局官方网站www.sipo.gov.cn查询.
免责声明:此职位信息只为各位考生提供报名参考之用,请以人事部正式公布的数据为准